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双球差透射电子显微镜
清华大学绿色反应工程与工艺北京市重点实验室    2018-12-12 13:53:10   

主要性能指标

型号:FEI Titan Cubed G2 300

安装时间:20175

安放地点:清华大学工物馆

STEM/HAADF分辨率:0.06 nm300kV)、0.13 nm 60kV

TEM极限分辨率:0.056 nm300kV)、0.10 nm 60kV

探测器:四个探头(HAADFDF2DF2BF

加速电压:30kV60kV120kV300kV

附件:

 CMOS相机,像素≥4Kx4K,动态范围≥16bit,单像素尺寸≥14um x 14um;

    可同时采集STEM图像,EDS能谱,并进行面分布分析,并可进行STEM图像和EDS面分布结果的实时校准。

    仪器特点:极大的物镜极靴(5.4mm)、四探头的超级能谱及适合不同测试样品的加速电压。

    样品范围:催化剂、电池材料、纳米材料的微观形貌表征、结构和微区成分分析、磁性材料磁畴的观测及原位实验(包括原位热电和三维重构)。
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