双球差透射电子显微镜
清华大学绿色反应工程与工艺北京市重点实验室 2018-12-12 13:53:10

主要性能指标
型号:FEI Titan Cubed G2 300
安装时间:2017年5月
安放地点:清华大学工物馆
STEM/HAADF分辨率:0.06
nm(300kV)、0.13 nm (60kV)
TEM极限分辨率:0.056
nm(300kV)、0.10 nm (60kV)
探测器:四个探头(HAADF、DF2、DF2、BF)
加速电压:30kV、60kV、120kV、300kV
附件:
CMOS相机,像素≥4Kx4K,动态范围≥16bit,单像素尺寸≥14um x 14um;
可同时采集STEM图像,EDS能谱,并进行面分布分析,并可进行STEM图像和EDS面分布结果的实时校准。
仪器特点:极大的物镜极靴(5.4mm)、四探头的超级能谱及适合不同测试样品的加速电压。
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