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清华大学绿色反应工程与工艺北京市重点实验室    2018-12-12 13:37:12   

偏振能量色散X射线荧光光谱分析(ED(P)XRF分析)


X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级X射线(X光荧光),而进行物质成分分析和化学态研究。

X射线荧光光谱法定量分析的依据是元素的荧光X射线强度与试样中该元素的含量成正比。

按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。

主要性能指标

型号:SPECTRO XEPOS(德国斯派克分析仪器公司)

安装时间:201610

安放地点:清华大学工物馆

元素范围:元素周期表中NaU,共计82种元素

分辨率:130eV

检出限:ppm级别

靶材:Co/Pd合金

测试气氛:大气或氦气或真空

测试样品:固体、粉末、液体

SSD检测器计数率:1000000cps

软件:TurboQuant II

样品范围:润滑油、低硫燃烧、石化产品、化学品、大气飘尘、熟料/水泥/矿渣、地质样品、化妆品、食品、药品、钢铁和铝板涂层、环境样品、土壤、污泥等


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